Ders Adı | Kodu | Yarıyıl | T+U Saat | Kredi | AKTS |
---|---|---|---|---|---|
Advanced Nanocharacterization Techniques | NMB 506 | 0 | 3 + 0 | 3 | 6 |
Ön Koşul Dersleri | |
Önerilen Seçmeli Dersler | |
Dersin Dili | İngilizce |
Dersin Seviyesi | YUKSEK_LISANS |
Dersin Türü | Seçmeli |
Dersin Koordinatörü | Dr.Öğr.Üyesi ABDULKADİR KIZILASLAN |
Dersi Verenler | Dr.Öğr.Üyesi UBEYD TOÇOĞLU, |
Dersin Yardımcıları | |
Dersin Kategorisi | Genel Eğitim |
Dersin Amacı | Bu dersin amacı, temel mikro/nano yapısal malzeme ve yüzey karakterizasyon teknikleri ve bu alandaki gelişmelerin anlatılmasıdır. Nanomalzemelerin özellik–yapı–performans ilişkilerini tanımlamak nanoteknolojinin en temel ilgi alanı olduğundan, bu ders içeriğinde analitik yapı analiz ve karakterizasyon tekniklerinin ayrıntılı incelenmesi de amaçlanmıştır. Malzeme bilimi boyutsal olarak mikro ölçekten nano ölçeğe evrilirken, ihtiyaç duyulan analiz süreçlerinin geleneksel mikro ölçekli karakterizasyon tekniklerinin nano ölçekli tekniklere dönüşümü ve yeni tekniklerin bilinmesi esastır. |
Dersin İçeriği | Malzemelerle elektronların, iyon ve fotonların etkileşimleri, Nano-ölçekte elektronik, kimyasal ve mekanik algılama ve görüntüleme, Kompozit Yüzey Analizi: X-ray Fotoelektron Spektroskopisi, iyon Kütle Spektroskopisi, Auger Elektron Spektroskopisi, Yüzey karakterizasyonu ve yüzey geriliminin belirlenmesi, Mikroskopik Teknikler: TEM, SEM, Prop teknikleri: STM, AFM, SNOM, İyon Demeti Teknikleri: LEISS, RBS, Rezonans Spektroskopisi: Kızılötesi ve Raman spektroskopi, Absorpsiyon ve Rezonans Absorpsiyon Spektroskopileri: NMR, Elektrokimyasal Teknikler: Voltametrik teknikler, AC Alternatif Direnç Analizi, Karakterizasyon stratejileri ve yöntem seçimi. |
# | Ders Öğrenme Çıktıları | Öğretim Yöntemleri | Ölçme Yöntemleri |
---|---|---|---|
1 |
Hafta | Ders Konuları | Ön Hazırlık |
---|---|---|
1 | Elektronların, iyon ve fotonların malzeme ile etkileşimlerinin temel prensipleri, temel enstrümanlar | |
2 | Nano-ölçekte seyreden malzemelerin optik, elektronik, kimyasal ve mekanik özelliklerinin görüntüleme ve algılamasında kullanılan platformlar | |
3 | Kompozit yüzey analizi: X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS), İkincil iyon Kütle Spektroskopi (SIMS), Auger Elektron Spektroskopi | |
4 | Yüzey karakterizasyonu ve yüzey geriliminin yüzey gerilim ölçüm aleti ile belirlenmesi | |
5 | Işık ve electron mikroskobunun temel prensipleri | |
6 | Işık mikroskobu: Optik mikroskop, Fluorescence Mikroskop, Aynı Odaklı Mikroskop | |
7 | Elektron Mikroskop: TEM, SEM | |
8 | Prop teknikleri: STM, AFM, SNOM | |
9 | İyon Demeti Teknikleri: LEISS, RBS | |
10 | Titremeli Spektroskopi: Kızılötesi ve Raman spektroskopi | |
11 | Absorpsiyon ve Rezonans Absorpsiyon Spektroskopileri: NMR | |
12 | Elektrokimyasal Teknikler: Voltametrik teknikler, AC Alternatif Dienç Analizi | |
13 | Karakterizasyon stratejileri, Problem analizi, Değişik teknikler ile çözünürlük ve ölçüm limitleri | |
14 | Yöntem seçimi, Modelleme sonuçları, Data analizi. |
Kaynaklar | |
---|---|
Ders Notu | |
Ders Kaynakları | 1.Robert Vajtai (Ed.), Handbook of Nanomaterials,Springer 2013. 2. Alford, T.L., Feldman, F.C., Mayer, J.W., Fundamentals of Nanoscale Film Analysis, Springer, 2007. 3. Dinardo, N.J., Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces. 2nd ed., Wiley-VCH. 2004. 4. Golstein, J., Scanning Electron Microscopy and X-Ram Microanalysis. 3rd ed., Springer, 2003. 5. Watts, J.F., An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, Wiler 2003. 6. Wang, Z.L., Characterization of Nanophase Materials. Wiley-VCH, 2000. 7. Weinheim, E.L., X-ray characterization of materials, Wiley-VCH, 1999. |
Sıra | Program Çıktıları | Katkı Düzeyi | |||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | |||
1 | Yaşadığı toplumun bilgi toplumu olmasına katkıda bulunmak, toplumsal, bilimsel, kültürel ve etik sorunlara çözüm sunmak amaçlarıyla alanındaki bilimsel, teknolojik, sosyal veya kültürel ilerlemeleri ulusal ve uluslararası bilimsel ortamlarda (toplantılarda) tanıtır. | ||||||
2 | Alanında bilimsel araştırma yaparak bilgiye genişlemesine ve derinlemesine ulaşır, alanında güncel teknik ve yöntemler ile bunların kısıtları hakkında kapsamlı bilgiye sahip olup ve elde ettiği bilgiyi değerlendirir, yorumlar ve uygular. | ||||||
3 | Alanı ile ilgili problemleri tanımlar ve formüle eder, yeni ve/veya özgün fikir ve yöntemler geliştirir; karmaşık sistem veya süreçleri tasarlar ve tasarımlarında yenilikçi/alternatif çözümler ile gelişmekte olan yenilikçi yöntemleri kullanır. | ||||||
4 | Kuramsal, deneysel ve modelleme esaslı araştırmaları tasarlar ve uygular, belirsiz, sınırlı ya da eksik verileri bilimsel yöntemlerle tamamlar; verilerin toplanması, yorumlanması, duyurulması aşamalarında ve mesleki tüm etkinliklerde toplumsal, bilimsel ve etik değerleri gözetir. | ||||||
5 | Alanındaki uygulamaların sosyal, çevresel, sağlık, güvenlik, hukuki boyutlarını ve iş hayatı uygulamalarını bilir ve bunların getirdiği kısıtların farkındadır. Disiplin içi ve çok disiplinli takımlarda etkin bir biçimde birlikte ve ya bağımsız çalışabilir ve sorumluluk alır. | ||||||
6 | Malzeme ve ilgili prosesleri ve/veya olayları nano ölçekte inceler. |
# | Ders Öğrenme Çıktılarının Program Çıktılarına Katkısı | PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
1 |
Değerlendirme Sistemi | |
---|---|
Yarıyıl Çalışmaları | Katkı Oranı |
1. Ödev | 100 |
Toplam | 100 |
1. Yıl İçinin Başarıya | 50 |
1. Final | 50 |
Toplam | 100 |
AKTS - İş Yükü Etkinlik | Sayı | Süre (Saat) | Toplam İş Yükü (Saat) |
---|---|---|---|
Ders Süresi (Sınav haftası dahildir: 16x toplam ders saati) | 16 | 3 | 48 |
Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi(Ön çalışma, pekiştirme) | 25 | 3 | 75 |
Ara Sınav | 1 | 3 | 3 |
Ödev | 1 | 20 | 20 |
Final | 1 | 3 | 3 |
Toplam İş Yükü | 149 | ||
Toplam İş Yükü / 25 (Saat) | 5,96 | ||
Dersin AKTS Kredisi | 6 |